稀土增强荧光识别二维晶体纳米点缺陷

先了解这件事

二维材料具有优异的电学和光学性质，是下一代电子与光电子器件的重要候选材料。 随着大面积、高质量二维单晶制备技术不断发展，如何快速、灵敏、无损地识别其中普遍存在的纳米点缺陷，成为材料质量评价和规模化器件集成的关键问题。 近日，中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心SF01组的白雪冬课题组的王理等人提出一种基于稀土增强荧光的二维晶体纳米点缺陷识别方法。

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